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RAVIIS-300快速自动微颗粒成像分析系统
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- 产品描述
- 特性优势
- 基本参数
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RAVIIS-300快速自动微颗粒成像分析系统
是一款快速智能、全自动化、且拥有完全自主知识产权的50KV扫描透射电子显微镜（STEM）。满足病毒形态观察、疫苗细胞库安全性检测及疫苗研发制造、临床病理组织切片研究、生物科研脑神经连接组学等领域的应用需求。
● 分辨率 1.0nm@50kV（1nA）
● 单束STEM成像速度100M像素/秒
● 10ns/像素 驻留时间
● 全自动样品载入系统
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产品特点
1、超高分辨率
全新光学系统设计，分辨率1.0nm@50kV（1nA），可获得兼具高分辨率和大视野（畸变小于1‰）的图像2、超高速成像
高速STEM探测器 ，图像采集速度100M/S3、全自动样品载入与导航
配备全自动样品载入系统（5个样品同时载入），全新的样品加载方案、便捷的样品信息查询功能，实现了样品管理自动化4、稳定可靠
7*24小时自动连续图像采集核心技术
● 高分辨率高亮度电子光学系统
50KV下100M/s STEM超高速成像。系统具备视频级（25fps@2k*2k）纳米尺度分析能力，在保持高分辨率情况下，可进行全自动无遗漏信息采集。
● 高灵敏度直接电子探测器
RAVIIS-300所有探测器均采用独立设计的直接电子（Direct Electron）探测器，电子直接转换为电信号，因此探测效率高达80%以上，拥有更高的信噪比（SNR）。
● 大场与高分辨成像快速切换
创新的电子光学设计，大场成像与高分辨成像独立运行，快速切换，颗粒精准识别定位，高分辨迅速成像。
● 高速高稳定机械运动平台
采用无震动运动平台，X=±4mm， Y=±4mm，定位精度1um。
● 专为全自动化微颗粒检测设计的光学系统
传统透射电镜视场较小，无法满足大量纳米颗粒的检测和识别工作。RAVIIS-300基于半导体工业级电子束检测设备理念设计，实现高通量纳米颗粒检测能力；
RAVIIS-300通过对快速成像技术、无震动样品台、高速电子光学系统以及AI技术等创新设计，实现了超高速成像，成像速度可达到传统电镜的数十倍以上。● 全自动化设计
开机巡检、导航定位、一键对中、对焦调整、移位纠偏等一系列动作自动化，实时聚焦跟踪系统由硬软件配合组成。利用精准的电子偏转实现样品图像的精准定位，从而实现结果的高重复性。它不仅免除了耗费大量精力来调整寻找样品位置，同时利用AI智能实现自动检测，最终实现无人值守连续工作。
● 可针对不同客户量身定制软件功能
借助现代人工智能、AI算法等帮助试验人员进行分析，配合从前端样品制备，到电镜自动全切片成像拍摄、拼接后生成为高分辨地图集，再到后端数据处理，AI 智能分析可用于颗粒自动检测和分类，为用户提供完整的解决方案。
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技术参数
RAVIIS-300
分辨率
(1nA束流, 最佳条件下)1.0nm@50kV
成像模式
BF/DF（明场/暗场）
STEM模式着陆电压
50KV
探测器类型
半导体直接探测器
放大倍数
1X-500X(低倍率光学拍摄)
500X - 800,000X(STEM图像)电子枪
Schottky型热场发射
电子束流
50pA至100nA
样品台
X=±4mm， Y=±4mm，定位精度1um
成像通量
在0.5小时内以4nm pixel可完成1x1mm²的区域成像
极快速成像采集速度
100MB/s, 单张24k x 24k图像只需6.5s拍摄
采集方式
STEM 明场或者暗场采集
高通量电镜设备控制软件
RAVIIS具备自动图像优化，智能聚焦跟踪，全景光学导航，超大面积全自动采集功能
大场与高分辨成像快速切换
创新的电子光学设计，大场成像与高分辨成像独立运行，快速切换，颗粒精准识别定位，高分辨迅速成像
图像分析处理软件
AI Server超大视野成像，100um@25nm，AI Server高效率识别与测量
高通量颗粒定量检测能力
全新的载样系统及自动化样品管理系统，为定量检测保驾护航
RAVIIS-300快速自动微颗粒成像分析系统
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